Bildfeld in Abhängigkeit
von der Objektivvergrößerung | Objektivvergrößerung | Bildfeld (µm x µm) |
10 x | 1168 x 938 |
20 x | 584 x 469 |
50 x | 234 x 188 |
100 x | 117 x 94 |
150 x | 78 x 63 |
| Pixelauflösung der Aufnahmen | 1280 x 1024 Pixel |
| Laterale Auflösung (Linienstruktur/-breite) | 0.16 µm |
| Wiederholgenauigkeit laterale Messungen (3 σ) | 0.01 µm, Messung einer 5 μm Linienstruktur, Objektiv EC Epiplan-APOCHROMAT 100x / 0.95 |
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| Wiederholgenauigkeit Höhenmessungen (1 σ) | 0.02 µm, Messung einer 1,8 μm Höhenstufe, Objektiv EC Epiplan-APOCHROMAT 100x / 0.95 |
| Absolute Vergrößerung | 67,500x mit 150x Objektivvergrößerung
(Digitaler Zoom 16x, dargestellt auf 20.1” Monitor mit 1600 x 1200 Pixel) |
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| Beleuchtung | Xenon-Lampe (Wellenlängenbereich: 400 bis 700 nm) |
Aufnahme-
geschwindigkeit | 7,5 fps (High-speed color mode); >100 fps (Wire-frame mode) |
| Farbtiefe | 3 x 8 bit (RGB) |
| Höhenmessung | Maximal 15 mm Messbereich |
| minimal 0,01 μm Schrittweite |
| 16 Bit Auflösung |
| Maximale Probenhöhe | 63 mm |
| Bildanalyse und Messungen | 2D: Abstände, Flächen, Flächenverhältnisse, Schwerpunkt, Feret Max, Feret X,
Feret Y, Durchmesser eines flächengleichen Kreises, Umfang, Segmentierung,
Binärisierung, Glättung, Gammakorrektur etc.
3D: Höhenmessung, Rauheitsmessung entlang Linien oder von Flächen
(Berechnung entsprechend DIN EN ISO 4287), Volumenmessung, Messung
der wirklichen Oberfläche, Partikelanalyse etc.
Zusätzlich: Bildüberlagerung, Messfelderweiterung mittels Bildstapelarrays,
einfache Berichterstellung |
| Monitor | 20,1’’ LCD-TFT |