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Messen Sie effizient und zuverlässig
Zur Charakterisierung von Materialoberflächen bietet Axio CSM 700 die komplette Funktionalität eines berührungslosen optischen 3D-Profilometers. Hochempfindliche Detektion von Lichtintensität, optimale konfokale Bildgebung, sehr genaue, kontinuierliche Messung der Höhenlage der Probe und innovative Software-Algorithmen erleichtern die Detektion von Höheninformation von ca. 20 nm Stufenhöhe bis in den Millimeterbereich in einer vibrationsfreien Umgebung.
 Ergebnisse einer 2D-Rauheitsanalyse
gemäß normgerechter Filterung,
Rauheitsnormal mit Ra = 1.009 µm, Messergebnis: Ra = 1.000 µm,
Abweichung unter 1%. EC Epiplan-NEOFLUAR 50x/0.80 |
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Profitieren Sie von ausgezeichneter Profilometrie
Das Mikroskop Axio CSM 700 misst Rauheiten und generiert Höhenprofile – schnell und reproduzierbar. Auf Basis des hochauflösenden, mikroskopischen Farbbildes können Sie entscheiden, wo und wie das Höhenprofil aufgenommen werden soll, so dass beschädigte, nicht-repräsentative Bereiche auf der Probe maskiert werden können bzw. Konturen präzise nachverfolgt werden können.
Zusätzlich zur mit dem Standard DIN EN ISO 4287 konformen Berechnung der Rauheitsparameter, ist auch die Durchführung von Oberflächenanalysen zur Bestimmung von 3D Eigenschaften – wie Menge von Schmierrückständen – möglich. Sowohl die BAC als auch die Amplituden-Dichtefunktion können simultan angezeigt werden. Die für 2D-und 3D-Rauheitsanalysen erforderlichen Messungen können in der Regel in weniger als einer Minute durchgeführt werden.
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